Bildnummer: NTEV001

Bildunterschrift:
Dipl. Ing. Jurgita Zekonyte (Litauen, rechts) und Dipl. Ing. Abnijit Biswas (Indien) an der XPS-Anlage. Die Röntgenphotoemission (XPS = x-ray photoelectron spectroscopy) ist seit vielen Jahren eine Standardmethode zur Charakterisierung elektronischer Materialeigenschaften. (Technische Fakultät, Lehrstuhl für Materialverbunde, Prof. Dr. Faupel)

Bildnachweis:
Foto: Eric Lichtenscheidt, Copyright: Uni Kiel

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